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分析測(cè)試中心分析儀器XPS、XRD、SEM和ICP-MS即將投入使用
發(fā)布時(shí)間:2022-03-28     作者:     文章來源:分析測(cè)試中心     瀏覽量:1628   分享到:

    為研究院科研生產(chǎn)提供優(yōu)質(zhì)的測(cè)試服務(wù),是分析測(cè)試中心全體人員的初心和使命。為進(jìn)一步提升分析測(cè)試中心服務(wù)能力和水平,中心購(gòu)進(jìn)掃描電鏡(SEM)、X射線粉末衍射儀(XRD)、X光電能譜儀(XPS)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)四臺(tái)大型精密分析儀器。

    目前這四臺(tái)大型精密分析儀器正在安裝調(diào)試,即將全部投入使用,以下是儀器簡(jiǎn)介,歡迎研究院同事來分析測(cè)試中心測(cè)試并提供寶貴意見和建議!


    1.X射線光電子能譜(XPS

    儀器設(shè)備:X射線光電子能譜(XPS),日本/ULVAC-PHI,Inc,型號(hào)PHI5000 VersaProbe IV。

    應(yīng)用范圍:儀器能實(shí)現(xiàn)材料表面幾個(gè)原子層(1-10納米厚的表面)的化學(xué)組成、價(jià)態(tài),深度剖析及成像等綜合分析與表征技術(shù)的研究,被廣泛應(yīng)用于分析無機(jī)化合物、合金、有機(jī)高分子化合物、能源電池材料、催化材料等,表征表面成分,表面缺陷(腐蝕,異物,污染,分布不均等),表面多層薄膜等,對(duì)于各種材料開發(fā),材料剖析與失效機(jī)理的分析和研究具有不可替代的作用。

    功能配置:UPS(紫外光電子能譜)、荷電中和系統(tǒng)、氬團(tuán)簇離子槍,XPS成像、全自動(dòng)五軸樣品臺(tái)、冷熱樣品臺(tái)。


    2.X射線衍射儀(XRD

    儀器設(shè)備:X射線衍射儀(XRD,德國(guó)Bruker,型號(hào)D8 ADVANCE。

    應(yīng)用范圍:廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、藥物學(xué)、冶金學(xué)、高分子材料、生命科學(xué)及材料科學(xué)??梢苑治鲳ね恋V物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相檢索、物相定量分析、晶粒尺寸分析、結(jié)構(gòu)精修、從頭結(jié)構(gòu)解析、無標(biāo)樣定量分析。材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。

    功能配置:原位電池附件(XRD-BAT),中低溫樣品臺(tái)(TTK600)。

    3.場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM

    儀器設(shè)備:場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM,日本電子株式會(huì)社,型號(hào)JSM-IT800。

    應(yīng)用范圍:主要用于非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料的微觀形貌的高分辨觀察,微區(qū)成分分析,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

    功能配置:能譜儀系統(tǒng):牛津,型號(hào)為 UltimMax 65。


    4.電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS

    儀器設(shè)備:電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS,安捷倫,型號(hào)7900。

    應(yīng)用范圍:主要進(jìn)行各種樣品的痕量元素的檢測(cè),包括元素分析、同位素分析和元素形態(tài)分析,在核工業(yè)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)藥及生理分析、法醫(yī)鑒定、環(huán)境監(jiān)測(cè)、半導(dǎo)體行業(yè)、生產(chǎn)過程質(zhì)量控制領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

    功能配置:碰撞模式、反應(yīng)模式、有機(jī)體系、無機(jī)體系、氫氟酸體系。